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X荧光镀层测厚仪是工业和科研使用广泛的测厚仪器

  • 发布日期:2020-10-23      浏览次数:24
    •   X荧光镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段,为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
        X射线是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步,测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。
        它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器,是能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线,不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号变为模拟信号,经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理,计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的各类及各元素的镀层厚度。
        X荧光镀层测厚仪拥有超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面,易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结,有助于识别镀层成分的创新型功能,机身结构小巧结实,外形十分漂亮,分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享,有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用。

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