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能量色散x荧光分析仪

能量色散x荧光分析仪

更新时间:2020-03-29

产品型号:EDX18OOB

产品报价:

产品特点:完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析
能量色散x荧光分析仪应用新一代的高压电源和X光管,提供了产品的可靠性
利用新X光管提高仪器的测试效率,并优化产品性能和提高安全防护等级
不添加任何硬件设施既可升级分析功能,方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类
采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低
检测时间短,可以大大提高工作效率

EDX18OOB能量色散x荧光分析仪的详细资料:

能量色散x荧光分析仪产品说明、技术参数及配置

天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器,可准确无误地分析出黄金,铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量,测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。

黄金贵重,仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于超高精确度、超高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作,一切让贵金属检测如此简单!

性能优势

超高分辨率:
采用SDD硅漂移探测器 ,分辨率为139±5ev ,而常规的Si-PIN探测器,分辨率为160±5eV, 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
小准直器,轻松实现精小部位测试:
提供多种准直器,直径小达0.2mm,可轻松实现精小部位的精确测试,同时可根据测试需求电动切换准直器,使测量更加轻松更加准确。

一键式智能式操作,省去选曲线烦恼:
FP法的完整使用,只需一键操作即可智能化自动匹配曲线,操作一步到位。

技术参数

元素分析范围从硫(S)到铀(U)
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:139±5eV

仪器配置

移动样品平台
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
质量:45Kg

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测

产品说明、技术参数及配置

完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析
能量色散x荧光分析仪应用新一代的高压电源和X光管,提供了产品的可靠性
利用新X光管提高仪器的测试效率,并优化产品性能和提高安全防护等级
不添加任何硬件设施既可升级分析功能,方便灵活的随未来发展的分析需要增加分析元素及合金种类
采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低
检测时间短,可以大大提高工作效率

性能特点

下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现更高的测试效率

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达ppm
分析含量一般为ppm到99.99%
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg

标准配置

移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
新型X光管
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄铜成分分析,以及铜合金、锌合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析

 

较新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

X荧光分析仪针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐

SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比

低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围

解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

 

应用领域

 

X荧光分析仪是一款无损快速检测设备,同时应用合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素),广泛应用于电子电器、五金工具、塑胶颗粒、线缆光缆、高压开关、纺织皮革等企业中,得到客户的广泛应用和认可。

 

产品介绍

 

X荧光分析仪厂家——江苏天瑞仪器股份有限公司,是专业分析仪器上市企业,EDX 4500H是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行准确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外,X荧光分析仪在合金分析、全元素分析、ROHS有害元素检测、镀层厚度分析等领域应用上也十分广泛。

 

标准配置

 

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

 

技术参数

 

产品型号:EDX 4500H

产品名称:X荧光分析仪

探测器能量分辨率为:145±5eV

管压:5KV-50KV

管流:50μA-1000μA

测量对象状态:粉末、固体、液体

输入电压:AC 110V/220V

环境温度:15℃-30℃

环境湿度:35%-70%

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)

同时分析元素:一次性可测几十种元素

测量时间:30秒-200秒

元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

样品腔体积:320mm×100mm

外形尺寸:660mm×510mm×350mm

重量:65Kg

 

 

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