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镀层锡测厚仪

镀层锡测厚仪

更新时间:2020-04-01

产品型号:THICK8OOA

产品报价:

产品特点:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
镀层锡测厚仪高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

THICK8OOA镀层锡测厚仪的详细资料:

仪器介绍

天瑞仪器镀层锡测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件

控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展

身手。


天瑞仪器镀层测厚仪应用领域
铁基---
铜基-----
锌基-----
镁铝合金----
塑胶基体---

应用优势
1 快速:一般测量一个样品只需要30S~300S,样品可不处理或进行简单处理;
2   无损:物理测量,不改变样品性质;
3   准确:对样品可以精确分析;
4 直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5   环保:检测过程中不产生任何废气、废水。


仪器配置

1 镀层锡测厚仪硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1)   X光管                 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统
(7)  上照、开放式样品腔      (8)双激光定位
(9)  玻璃屏蔽罩
2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各一台
计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
4 资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
5 标准附件
准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)


天瑞仪器镀层测厚仪参数规格
1 分析元素范围:S-U
2   同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5   定位精度:0.1mm
6 测量时间:30s-300s
7 计数率:1300-8000cps
8   Z轴升降范围:0-140mm
9   X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)


性能特点
1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求;
3  高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
4 天瑞仪器镀层测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度;
5  定位激光精确定位光斑,确保测试点与光斑对齐;
6  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
7  高分辨率探头使分析结果更加精准;
8  良好的射线屏蔽作用;
9  测试口高度敏感性传感器保护;


安装要求:
1 环境温度要求:15℃-30℃
2 环境相对湿度:<70%
3 工作电源:交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。

 



公司介绍

 

江苏天瑞仪器股份有限公司总部位于全国百强县之首江苏省昆山市,公司成立于1992年,前身

西安西清华仪器研究所,历经20多年的发展,以成长为国内分析仪器行业龙头公司,2011年在

深圳创业板上市,为国内一家分析仪器行业上市公司,股票代码300165.公司已成为集研发、

销售、生产和服务于一体的现代高科技企业,在北京,上海、深圳等地拥有多家子公司,构

筑了面向全销售和服务网络,涵盖光谱,色谱,质谱仪器,环境科学,医疗等业务领域,

涉及电子电器,贵金属,检测冶金环保,医疗,食品安全,电镀,石油冶炼等领域。

 

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。

镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

涂层测厚仪主要是利用磁感应原理或者电涡流测量原理等来测量导磁材料上的非磁性涂层厚度。 涂层测厚仪测量方便快捷,并且测量误差小、可靠性高,在产品进行涂层加工时可以有效保证产品质量 , 因而广泛应用于机械加工和检测行业。本文主要告诉你如何使用测厚仪,包括涂层测厚仪的使用方法、原理及影响因素。

1)磁性测厚法。 所谓磁性测厚法是适用于测量导磁材料上的非磁性涂层的厚度,其针对的导磁材料有钢、铁、银、镍等金属材料;

2)涡流测厚法。它是利用测头线圈上产生的电磁场在靠近导体的过程中形成涡流 , 而形成的涡流大小会直接以反射阻抗作用体现出来 , 终反映出导电基体上非导电涂层厚度的大小。该方法相比于磁性测厚法的精度要略低,适用于测量非导电涂层的厚度;

3)超声波测厚法。因为其造价高昂,并且测量精度并不高,所以超声波测厚方法目前在国内还没有被有效应用,在国外也只有个别企业在利用超声波进行测厚 , 主要是因为这种测量方式可以测量磁性测量和涡流测量所无法测量的多层涂层的厚度;

4)电解测厚法。这种方法需要破坏涂层进行电解测量,测量工序复杂,并且测量精度不高,因此应用并不广泛;

5)放射测厚法。这种测量仪器价格非常昂贵,只有在一些特殊场合才会用到。

 

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