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XRF电镀层测厚仪

XRF电镀层测厚仪

更新时间:2020-04-01

产品型号:THICK8OOA

产品报价:

产品特点:电镀层荧光测厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
XRF电镀层测厚仪同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

THICK8OOAXRF电镀层测厚仪的详细资料:

 

 

应用领域

 

五金电镀厚度检测,

首饰电镀贵金属厚度检测,

电子连接件表层厚度检测,

电镀液含量分析。

XRF电镀层测厚仪电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测,

铜镀锡件厚度检测,航空材料金属镀层厚度检测。

铜箔镀层厚度检测,光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测,

铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。

 

产品计量

 

 

 

售后服务

 

 专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器,已经成为电力行业,PCB行业,贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,方便满足不同客户不同样品的测试需要

 

产品简介

电镀层荧光测厚仪型号:Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

详细介绍

技术指标

 

电镀层荧光测厚仪型号:Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

XRF电镀层测厚仪同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

仪器优势

 

一、品牌

TianRay在1992年研发出了中国*台能量色散X射线荧光光谱仪,至今已经有25年以上经验积累,目前是国内一家真正有实力自主研发光谱仪及上市的公司,目前公司市值已超百亿,在全国拥有多家子公司,团队规模达3000人,成为中国乃至世界检测分析行业的引领者和知名品牌。电镀层荧光测厚仪对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析,对RoHS有害元素检测、重金属检测,检测环境里的重金属是否超标。 
 

的详细信息

电镀层荧光测厚仪介绍:

被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。

 

 X-ray荧光测厚仪采用上照式设计,符合电镀产品的特点,满足不规则样品的测试.

 

 

电镀层荧光测厚仪性能特点

 

电镀层荧光测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

 

 

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