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金属镀层测厚仪

金属镀层测厚仪

更新时间:2020-03-28

产品型号:THICK8OOA

产品报价:

产品特点:检测时间 :30-60秒
金属镀层测厚仪探测器及分辨率 :25mm2Be窗口SDD探测器,分辨率140±5eV
激发源: 50KV/1000uA-W靶X光管及高压电源
多道分析器 : DMCA数字多道分析技术,分析道数4096道

THICK8OOA金属镀层测厚仪的详细资料:

 

金属镀层测厚仪技术指标

仪器:X荧光测厚仪

型号:Thick 800A

外型尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸: 500(W)×350(D)×140(H) mm

样品台尺寸: 230(W)×210(D)mm

Z轴升降平台升降范围: 0~140mm

平台移动测量范围 : 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)

分析方法: FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法

测量元素范围 :原子序数为16S~92U之间的元素均可测量

同时检测元素 一次可同时分析*多24个元素,五层镀层

检出限 :金属镀层分析*薄可达0.005μm

厚度范围:分析镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

稳定性: 多次测量重复性可达1%

检测时间 :30-60秒

金属镀层测厚仪探测器及分辨率 :25mm2Be窗口SDD探测器,分辨率140±5eV

激发源: 50KV/1000uA-W靶X光管及高压电源

多道分析器 : DMCA数字多道分析技术,分析道数4096道

准直器和滤光片 固定Ф0.2mm准直器,可选配其他孔径,Al滤光片

定位 :平台电机重复定位精度小于0.1um

样品观察: 配备CCD多彩摄像头,图像放大可达40倍,实现微小样品清晰定位。

平台稳定性 :Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力

x荧光膜厚仪仪产品介绍

 X荧光镀层测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率*低为139eV,处于国际*水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的专用测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达国际*水平。

 

优点简述

 该款镀层仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业量身打造的*仪器。XYZ三个可调节方向、样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间,良好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境

电镀适用范围

铁基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni, □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag

铜基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr

锌基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au

镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au

塑胶基体----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

x荧光膜厚仪仪产品介绍

应用优势

1 快速:一般测量一个样品只需要10S~60S,样品可不处理或进行简单处理;

2 无损:物理测量,不改变样品性质;

3 准确:对样品可以分析;

4 直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快;

5 环保:检测过程中不产生任何废气、废水。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加*

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

 X荧光镀层测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率*低为139eV,处于国际*水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的专用测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达国际*水平。

 该款镀层仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业量身打造的*仪器。XYZ三个可调节方向、样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间,良好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境。

x荧光膜厚仪仪产品介绍

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