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X射线荧光镀层测厚仪

X射线荧光镀层测厚仪

更新时间:2020-04-08

产品型号:THICK8OOA

产品报价:

产品特点:X射线荧光镀层测厚仪性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便,在镀层行业中可谓大展身手。

THICK8OOAX射线荧光镀层测厚仪的详细资料:

X射线荧光镀层测厚仪 Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,能够有效分析PCB镀金厚度层检测,电镀厂镀镍镀铬厚度分析,五金镀锌测厚,铜镀银厚度分析等,仪器具有以下优点:

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

X射线荧光镀层测厚仪性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便,在镀层行业中可谓大展身手。

软件图片:

 

 

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

配置

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用:

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;

银行,首饰销售和检测机构;

电镀行业。

     

   厂商:

        江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 

  

1、仪器概述

    镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准。

2、性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

3、技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

4、测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。

 

铜镀镍件X射线荧光测试谱图

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

铜镀镍件测试值

结论

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。

 

厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司专业从事光谱、色谱、质谱、医疗仪器等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。产品包括:ROHS检测仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,ROHS检测设备,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,原子荧光光谱仪,电感耦合等离子发射光谱仪,手持式光谱仪,等离子体质谱仪, 镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪,ROHS仪器,气质联用仪,液质联用仪,ROHS卤素检测仪,x荧光光谱分析仪,手持式光谱分析仪,气相色谱质谱联用仪,液相质谱联用仪,便携式合金分析仪,ROHS测试仪,x-ray镀层测厚仪,环保ROHS检测仪,电镀膜厚设备.

 

 

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