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光谱测厚仪

光谱测厚仪

更新时间:2020-08-21

产品型号:THICK8OOA

产品报价:

产品特点:光谱测厚仪本仪器专门针对镀银层膜厚测试仪厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计,具如下特点:采用大面积(25mm^2)Si-pin半导体探测器,即实现高分辨率,亦保证足够高的记数率,从而实现测量。

THICK8OOA光谱测厚仪的详细资料:

光谱测厚仪本仪器专门针对镀银层膜厚测试仪厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计,具如下特点:
1.微小焦斑X射线测量系统
2.高移动平台及定位装置
3.大面积高分辨率探测器


4、选用fpthick手机软件完成了单镀层、双镀层、三镀层和合金镀层的检测
5.防碰撞保护装置有效保护测试机构和样品
光斑需足够小,以实现小测试点的测量
测试点定位不准
能测试不同厚度的样品
难以兼顾高分辨率和高记数率
无法同时分析合金镀层含量和厚度
使用先进的激光打孔技术,制作出Φ0.1mm以内微小孔准直器。完成了0.25mm点,考虑顾客的检测规定。
高二维样品移动平台,可准确定位测试点,重复定位达5μm以内
用户可通过鼠标点击视频范围内的任意一点,进行定点测试
镀银层膜厚测试仪采用高度定位激光,自动调节测试机构的升降运动,保证测试不同厚度的样品具有相同的测试距离,从而保证了结果的正确性。
采用大面积(25mm^2)Si-pin半导体探测器,即实现高分辨率,亦保证足够高的记数率,从而实现测量。
镀银层膜厚测试仪采用FPTHICK软件:通过复杂的数学运算,计算出每中元素之间的相互影响系数,对测试结果进行修正,能有效提高测试的度。
该软件不但能计算出合金镀层的厚度,可同时分析出该合金镀层中各种元素的含量,实现厚度含量一步到位。
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的精准分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
应用领域


耐磨镀层如镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金
减摩镀层如镀Sn、In、Sn-In合金
热加工镀层如防渗碳镀Cu、防渗氮镀Sn
反光镀层如镀Ag、光亮Ni等
防反光镀层如镀黑Ni、镀黑Cr等
导电镀层如镀Au、Ag、Sn、Cu等
磁镀层如镀Ni-Fe合金、Ni-Co,钼-锰合金等
抗氧化镀层如镀Cr、镀Pt-Rh合金
耐酸镀层如镀Zn、Sn-Pb合金等
性能指标:
1元素分析范围从硫(S)到铀(U);
2可同时分析多24个元素,5层镀层;
3分析检出限可达2PPm,薄可测试0.005um;
4分析含量一般为2PPm到99.9%;
5镀层厚度一般为在50um以内(每种材料有所不同);
6任意多个可选择的分析和识别模型;
7相互独立的基体效应校正模型;
8多变量非线性回收程序;
9多次测量重复性可达0.1%;
10长期工作稳定性可达0.1%;
11温度适应范围为15℃至30℃;
12电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源)。
3仪器特点:
1光谱测厚仪Think800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特设计的一款产品;
2采用上照式结构,以满足不规则表面样品的测试要求;
3采用美国型的Si-pin探测器,高分辨率探头使分析结果更加精准;
4采用高度定位激光,可自动定位测试高度,以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光定位光斑,以确保测试点与光斑对齐;
5高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm;
6内置φ0.1mm的小孔准直器,可以满足微小测试点的镀层测试;
7多重防辐射泄露设计,具有良好的射线屏蔽作用;
8内置高移动平台,通过测试软件可视化操作:鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
9采用网口传输数据,数据传输稳定且快。
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司总部位于全国百强县之首江苏省昆山市,公司成立于1992年,前身西安西清华仪器研究所,历经20多年的发展,以成长为国内分析仪器行业龙头公司,2011年在深圳创业板上市,为国内分析仪器行业上市公司,股票代码300165.公司已成为集研发、销售、生产和服务于一体的现代高科技企业,在北京,上海、深圳等地拥有多家子公司,构筑了面向的销售和服务网络,涵盖光谱,色谱,质谱仪器,环境科学,医疗等业务领域,涉及电子电器,贵金属,检测、冶金、环保,医疗,食品安全,电镀,石油冶炼等领域。

 

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