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edx荧光分析仪

edx荧光分析仪

更新时间:2020-10-11

产品型号:EDX4500

产品报价:

产品特点:产品名称:edx荧光分析仪。高效超薄窗口X射线管已达到国际先进水平。数字多通道技术使测试速度更快,计数率达到100000CPS,准确率更高。SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性度、能量分辨率和能谱特性,以及较高的峰背比。

EDX4500edx荧光分析仪的详细资料:

edx荧光分析仪的性能参数。
产品型号:EDX4500。
产品名称:edx荧光分析仪
测量元素范围:从钠到铀
元素含量分析范围:ppm—99.99%(不同元素分析范围不同)
元素同时分析:一次可以测量几十个元素。
测量时间:60-200秒。
探测器的能量分辨率为145±5eV。
管压:5KV-50KV。
管道流量:50μA-1000μA..
被测物体状态:粉末、固体和液体。
输入电压:交流110v/220v。
环境温度:15℃-30℃。
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm。
样品室容积:φ320mm×100mm。
体重:65Kg。


性能特点。
高效超薄窗口X射线管已达到国际先进水平。
数字多通道技术使测试速度更快,计数率达到100000CPS,准确率更高。在合金检测中效果更好。
SDD硅漂移探测器具有良好的能量线性度、能量分辨率和能谱特性,以及较高的峰背比。
低能X射线激发待测元素,对Si、p等轻元素有很好的激发作用。
智能抽真空系统可以屏蔽空气的影响,大大扩大测试范围。
自动稳谱装置保证仪器操作的一致性。
高信噪比电子电路单元。
准直器和过滤器针对不同的样品自动切换,避免了繁琐的人工操作。
光谱分解技术对光谱峰进行分解,使被测元素的测试结果具有同等的分析精度。
多参数线性回归方法可以明显抑制元素间的吸收和增强效应。
内置高清摄像头。
LCD显示使仪器的重要参数(管压、管流量、真空度)一目了然。
标准配置。
高效超薄窗口x射线管
SDD硅漂移探测器。
数字多通道技术。


Edx荧光分析仪是钢铁行业检测的专用设备。
光路增强系统。
高信噪比电子电路单元。
内置高清摄像头。
自动切换准直器和过滤器。
自动稳谱装置。
三重安全保护模式。
独立矩阵效应校正模型。
多变量非线性回归程序
整个钢架结构保证了可靠的强度。
液晶屏90mm×70mm。
真空泵。
应用领域。
钢材检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等。

 

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